Seminar Design For Test
Wilt u ook dat uw geproduceerde borden correct werken?
Op donderdag 17 november organiseren Astron en IBM in Dwingelo een seminar over design for test. HW-engineers van zowel Astron, IBM als Transfer DSW presenteren de testuitdagingen waar zij tegenaan lopen, de wijze waarop zij dat hebben opgelost, maar ook die testaspecten waarvoor ze nog zoekende zijn naar een goede aanpak.
Production engineers van Batenburg en Variass presenteren vanuit hun ervaringen als elektronicaproductie-partner de voordelen voor hun klanten van een goed testbaar en produceerbaar ontwerp en de testmethoden die zij hiervoor kunnen inzetten.
Transfer DSW presenteert vanuit zijn ervaring als elektronica-ontwikkelaar verschillende testmethoden die ook bij kleinere ontwerpen succesvol ingezet kunnen worden.
JTAG Technologies sluit de dag af met een presentatie over de huidige en toekomstige rol die Boundary scan tooling bij deze problematiek kan vervullen.
Het event vindt plaats op:
Donderdag 17 november 2016 bij
ASTRON and IBM Center for Exascale Technology
Oude Hoogeveensedijk 4, Dwingeloo
Voor gedetailleerde programma-informatie en de inschrijvingsmogelijkheid kunt u klikken op onderstaande button.
10.00 – 18.00 uur