8 jan. 2007
0 minuten
KTE staat voor Keithley Test Environment en dit pakket is inmiddels toe aan versie 5.2. De programmatuur is bedoeld voor het besturen van het parametrische testsysteem S600 voor halfgeleiderwafers van de fabrikant en moet helpen om de doorvoersnelheid van componenten te verhogen. Zo is het beproeven bij hoogfrequentsignalen verbeterd terwijl het ook mogelijk is om parallelle testen uit te voeren in zowel laboratorium- als productieomgevingen. Een extra routine, PT_Execute genaamd, versnelt daarbij de keuze tussen parallel versus serieel beproeven. Daarbij zorgt de FMI-functie (Force-Measurement Interlock) voor betere overspraak- en ruiswaarden in de metingen.