15 jan. 2007
0 minuten
Voor Model 4200-SCS (Semiconductor Characterization System) brengt Keithley Instruments een nieuwe release uit van de Keithley Test Environment Interactive (KTEI) V6.1 software. In de nieuwe software zijn verbeteringen aangebracht ten aanzien van de I-V pulsmetingen van het betreffende model; bovendien is de correlatie tussen puls en DC-metingen verbeterd. Pulscontrole is een techniek die steeds belangrijker wordt voor het kunnen karakteriseren van nieuwe semi-conductor materialen. Daarnaast omvat KTEI V6.1 nieuwe geïntegreerde drivers voor Keithley 3400 pulsgeneratoren. Hiermee zijn deze pulsgeneratoren via de 4200-SCS naadloos in het testgebied te integreren zodat een grote diversiteit aan pulsfuncties beschikbaar komt.