6 jun. 2006
0 minuten
De Vectorless Test Expanded Performance is een technologie die wordt toegepast voor het testen van elektronica. De nieuwste versie van deze technologie is intelligenter en daardoor minder afhankelijk van de geometrie van het bedradingsframe. Hij is toe te passen voor ultra kleine componenten, flip chips en apparatuur met een minimaal aantal of geen bedradingsframes. De Medalist iVTEP oplossing is te gebruiken met de bestaande VTEP hardware. Een eenvoudige upgrade van de software is voldoende om van de extra voordelen gebruik te kunnen maken. De iVTEP technologie is beschikbaar voor de Agilent Medalist i5000 en 3070 In-Circuit Test platform.