National Instruments organiseert Europese virtuele conferentie over geautomatiseerde testsystemen

National Instruments organiseert de eerste online Europese Conferentie over geautomatiseerde testsystemen (ATE, Automated Test Equipment), met technische sessies over trends en uitdagingen op het gebied van geautomatiseerde tests. De Pan-Europese Conferentie over geautomatiseerde systemen is een kosteloos evenement dat op 27 november vanaf 10.00 uur live op het internet wordt gehouden. Tijdens de conferentie, die de hele dag duurt, kunnen de deelnemers informatieve presentaties en technische sessies bekijken, aan vraag- en antwoordforums deelnemen en op een virtuele vakbeurs communiceren met leveranciers. De conferentie blijft online bereikbaar tot 30 dagen na het online live evenement.

"National Instruments verheugt zich op de samenwerking met toonaangevende leveranciers van technologie en automatische testapparatuur bij het presenteren van de nieuwste teststrategieën en -technologieën die een antwoord bieden op de uitdagingen waarmee testers en managers van grote elektronicaproducenten worden geconfronteerd", aldus Francis Griffiths, Sales Vice President bij NI Europe. "Om de conferentie beter toegankelijk te maken voor technici met een drukke werkdag, organiseert NI het evenement in de vorm van een online conferentie. Hierdoor kunnen de deelnemers op een voor hen geschikt tijdstip kennismaken met de best practices voor testontwikkeling".

Tijdens de conferentie zullen vertegenwoordigers van bedrijven zoals Averna, Intel, Microsoft, National Instruments en Texas Instruments hun technische expertise en best practices delen met de deelnemers. Mike Santori, een NI Business and Technology Fellow, zal de conferentie openen met de inleidende presentatie "Developing Next-Generation Test Systems". Marvin Landrum, manager voor automatiseringsinfrastructuur bij Texas Instruments, houdt na de middag een presentatie met de titel "Strategies for Developing a Global Test Program". Op de technische sessies komen de volgende onderwerpen aan de orde:
• Kosteneffectieve strategieën voor het ontwerpen van testsystemen
• Overwegingen bij het ontwerpen van meermaals bruikbare testsystemen
• Technieken om de betrouwbaarheid en beschikbaarheid van systemen te handhaven
• Tips voor de integratie van heterogene instrumentenplatforms

Op www.ni.com/testsummiteurope  is meer informatie te vinden over de Europese Conferentie over Geautomatiseerde Testsystemen.