17 feb. 1999
1 minuut
De Ridgetop Group en de Universiteit Twente maakten bekend dat de universiteit is begonnen met het gebruik van het halfgeleiderproces-karakteriseringsysteem ProChek om de belangrijkste degradatieparameters te onderzoeken in het Cmos-proces. De gegevens daarvoor zijn verkregen uit verouderingsexperimenten met multiprocessor SoC’s (MPSoC).
Het systeem versnelt het proces van het verzamelen van karakteriseringsdata op componentniveau, dat nodig is voor chipfabrikanten en fabless halfgeleiderproducenten om de kwaliteit en betrouwbaarheid van het productieproces te garanderen.
Het onderzoeksteam wordt geleid door dr. Hans Kerkhoff van het Centrum voor Telematica en Informatie Technologie. De activiteiten maken deel uit van het nationale project Stars. Doel van dit project is het ontwikkelen van kennis en technologie ie nodig is voor het maken van herconfigureerbare sensoren en sensornetwerken voo beveiligingstoepassingen.
De meetgegevens zullen worden gecorelleerd met gemeten functionele parameters van herconfigureerbare processorkernen in een homogene MPSoC-omgeving tijdens veroudering. Dat moet leiden tot een nieuwe generatie betrouwbare geïntegreerde systemen, met ongeëvenaarde eigenschappen. Het verouderingsonderzoek zal in een later stadium ook worden uitgebreid naar analoge IP-blokken en mixed-signal IP.
Het ProChek systeem bevat nauwkeurige stroom- en spanningsbronnen en strees-en-meet instrumentatie, in een compacte draagbare behuzing. Een speciale testarchitectuur omvat ingebedde on-chip verwarmingselementen waardoor het systeem transistoren onder strees kan meten, zonder dat een oven nodig is.
Anderen lazen ook
